1980 年测量采用硅反型层
von Klitzing、Dorda、Pepper 测量硅晶体管结构中的二维电子系统。强垂直磁场下,改变载流子浓度时,Hall 电阻出现可重复平台。
在合适条件下,平台数值对器件几何不敏感。1985 年授奖表彰这一发现,它给电学计量带来新的量子基准。
平台需要相应输运状态
理想整数平台中,纵向响应可忽略时,Hall 电导是电导量子的整数倍。Landau 量子化提供能级,局域化帮助形成转变之间的有限平台区间;能级图仍不是完整输运测量。
几项检查让它成为可用基准
温度、电流、接触质量与纵向电压,可以揭示样品是否偏离量子化状态。跨器件重复同样重要,因为基准要经受住不应改变不变量的条件变化;大电流击穿也是使用边界。
来源:[1]
整数能带模型有自己的范围
磁边缘谱与 Chern 绝缘体 Lab 在可控单粒子模型中解释能级、边界和整数拓扑,本专题直接复用。分数 Hall 液体需要关联,另文讨论,不能从整数 Chern 数直接推出来。