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Sandbox Physics

E53 · 电子成像 / 电子谱学

ARPES 能带与费米面测量

发射角如何揭示电子能带? 每个光电子,量出动能和出射角,就能算出结合能和沿表面方向的动量。把计数按能量和角度排成一张图,占据态能带就直接显现出来。图上哪里亮、哪里暗,还和光子能量、温度以及跃迁矩阵元有关。

拖动金色晶体选择能量与动量切面,再保存不同方位的采集。费米能附近的强度逐渐拼成一张图,灰色留出尚未测到的区域。

交互模型ARPES 能带与费米面测量
已存切面00
已采样动量格占比0 %0\,\mathrm{\%}
局部动量半高全宽0 A˚−10\,\mathrm{\mathring{A}^{-1}}
偶极权重近似00
更多测量与实验目标
光束相对法线的入射角0 ∘0\,\mathrm{{}^\circ}
费米能处电子动能0 eV0\,\mathrm{eV}
中心平行动量0 A˚−10\,\mathrm{\mathring{A}^{-1}}
假定垂直动量0 A˚−10\,\mathrm{\mathring{A}^{-1}}
费米边热展宽0 eV0\,\mathrm{eV}
Voigt 与边缘宽度近似0 eV0\,\mathrm{eV}
已知能带费米穿越数00
接收动量下界0 A˚−10\,\mathrm{\mathring{A}^{-1}}
接收动量上界0 A˚−10\,\mathrm{\mathring{A}^{-1}}
实验任务—\text{—}

物理教程

发射角如何揭示电子能带?

背景单色光照射晶体,进入分析器的不是光,而是逸出的光电子。透镜保留电子的发射角信息,半球电极按能量把电子分开,二维电子探测器记录一个能量与角度的切面。

为什么值得理解先弄清仪器设置怎样影响测量结果,再去解读样品。

先抓重点

核心问题
发射角如何揭示电子能带?
一句话直觉
同时测量能量和发射角,就能重建占据态的谱函数。能带变暗,可能是矩阵元把它压低了;温度升高会把费米边抹宽;换一个光子能量,能测到的动量范围也随之改变。

核心数学模型

方位角与费米能窗

kx=k∥cos⁡φ,ky=k∥sin⁡φ,−δEF≤E−EF≤δEF\begin{aligned}k_x&=k_\parallel\cos\varphi,\\k_y&=k_\parallel\sin\varphi,\\-\delta E_F&\leq E-E_F\leq\delta E_F\end{aligned}

保存的每个能量行都使用各自动能。动量格显示能窗内采样强度的平均值,权重是每行与能窗的重叠长度。未采样的格保持灰色,缺少的方位不插值补齐。

能量与平行动量

EB=hν−ϕa−Ekin,k∥=2meEkinℏsin⁡θ\begin{aligned}E_B&=h\nu-\phi_a-E_{\mathrm{kin}},\\k_\parallel&=\frac{\sqrt{2m_eE_{\mathrm{kin}}}}{\hbar}\sin\theta\end{aligned}

模型假定样品和接地分析器的功函数都是 4.5 eV。发射角从样品表面法线量起;图像的每一行能量用各自的动能换算。光的入射角是另一个独立的几何量。

占据态谱权重

I∝[∣M∣2Af(E,T)]∗R,A=Γ/π(E−εk)2+Γ2,R=RE∗Rθ\begin{aligned}I&\propto [|M|^2Af(E,T)]\ast R,\\A&=\frac{\Gamma/\pi}{(E-\varepsilon_{\mathbf k})^2+\Gamma^2},\\R&=R_E\ast R_\theta\end{aligned}

仪器模糊只会抹宽占据态强度,不会移动能带本身。

合成能带与终态

εk=−2tC−μ+2tzD,C=cos⁡(akx)+cos⁡(aky),D=cos⁡(ckz)\begin{aligned}\varepsilon_{\mathbf k}&=-2tC-\mu+2t_zD,\\C&=\cos(ak_x)+\cos(ak_y),\\D&=\cos(ck_z)\end{aligned}

跃迁能量为 0.45 eV,面内间距 3.8 埃,层间距 6 埃。垂直动量要依靠自由电子终态假设才能确定。

常见难点

能带为什么会变暗

容易误解看不到明亮能带,就说明那个动量没有电子态。

正确理解光电子强度取决于谱权重、占据、偶极矩阵元和分辨率。灰格表示没采到,深色格表示采到了但强度弱,两者都不能证明那里没有能带。保存切面时也会保留当时偏振,偏振变化会改变亮度。

动手实验

  1. 01

    从切面拼出费米图

    点“新建扫描”,再点“保存切面”。转动“晶体方位”后保存另一条切面;“扫描 48 个方位”可装入完整采集示例。调节“费米能窗半宽”,比较同一组已存图像。

    你会看到: 单条狭缝切面留下大片灰格,增加方位才会扩大覆盖。只转动样品会更新当前探测图,保存后才改变费米图;改变样品或仪器条件会开始新扫描。
  2. 02

    找到光束与电子

    沿紫色光束找到受光点,再跟随光电子穿过透镜、绕过半球电极。倾转样品时,白色法线转动,透镜轴线保持固定。随后比较清晰切面与权重抑制。

    你会看到: 同时测量能量和发射角,就能重建占据态的谱函数。能带变暗,可能是矩阵元把它压低了;温度升高会把费米边抹宽;换一个光子能量,能测到的动量范围也随之改变。
  3. 03

    捕捉费米穿越

    捕捉一个费米穿越:动量半高全宽小于每埃 0.025,费米边热展宽小于 0.03 eV,矩阵元权重大于 0.30。然后转动偏振,让能带变暗,但位置不动。

    你会看到: 先看数值是否达标,再把仪器视图和数据图对照着看。
  4. 04

    改变切面和光子能量

    转动晶体方位改变切面,比较高温展宽与低温目标。加入层间跃迁,再改变光子能量,探索假定的垂直动量选择。

    你会看到: 能带是方格子上合成的紧束缚能带,谱线用洛伦兹谱权重、费米占据和高斯仪器模糊计算。偏振效应用假定的偶极权重近似。垂直动量按自由电子终态计算,内势假定为 10 eV。狭缝分析器每次测一个切面,费米图汇总已保存的切面,未采样处留灰。加入层间跃迁后,图内垂直动量随位置变化。
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