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Sandbox Physics

E63 · 电子激发与表面谱学

逆光电子谱:看见空态

发出的光子,能告诉我们哪些空电子态信息? 能告诉我们空态在哪个能量上。入射电子落进一个空态,放出光子,探测器只收某一固定能量的光子。扫描入射电子能量,就能定出空态的位置;测到的峰会被仪器分辨率展宽。

一步步改变入射电子的能量,探测器只数一个固定能带里的光子。从记录的计数里找出电子落入空态的两个峰,再看光子带宽、电子能量展宽、曝光和能量标定怎样影响它们。

交互模型逆光电子谱:看见空态
首个计数质心—\text{—}
第二计数质心—\text{—}
较弱采集峰信噪比—\text{—}
合成仪器半高宽—\text{—}
更多测量与实验目标
所选存储光子计数—\text{—}
所选表面动能—\text{—}
相对输入的较大质心误差—\text{—}
采集电子能量位置数—\text{—}
累积入射剂量—\text{—}
指定响应变化比例—\text{—}
实验目标—\text{—}

物理教程

逆光电子谱:看见空态

背景电子打进表面后,可以落进一个空态,同时放出一个光子。这里你一步步改变入射电子的能量,探测器只数一个固定能带里的光子。先从计数里找出两个空态峰,再看光子带宽、电子能量展宽、曝光和能量标定怎样影响它们。

为什么值得理解目标是让每个峰都落在未损伤位置的 0.12 电子伏特以内。每个峰的信噪比至少 10,仪器合成半高宽不超过 0.8 电子伏特,按设定规律变化的响应不超过百分之十五。

先抓重点

核心问题
发出的光子,能告诉我们哪些空电子态信息?
一句话直觉
电子带进能量,光子带走固定的能量,两者之差就指出空态在哪里。

核心数学模型

电子落入的终态能量

εf=Ekin+Φ−hνEkin=εf+hν−Φ\begin{aligned}\varepsilon_f&=E_{kin}+\Phi-h\nu\\E_{kin}&=\varepsilon_f+h\nu-\Phi\end{aligned}

动能从局部真空能级算起,终态能量从费米能级算起。标定一错,整条能量轴都会平移。

两个高斯宽度合成仪器分辨率

winst=we2+wγ2σ=winst22ln⁡2\begin{aligned}w_{inst}&=\sqrt{w_e^2+w_\gamma^2}\\\sigma&=\frac{w_{inst}}{2\sqrt{2\ln2}}\end{aligned}

电子宽度和光子宽度彼此独立,都是高斯型,按平方和相加。态本身的自然宽度还要另外算上。

每个电子能量下的期望光子计数

ε0=E+Φ−hνR(E)=∫0∞ρu(u)×Gσ(u−ε0) duμ(E)=bτ+IτeηAγR(E)\begin{aligned}\varepsilon_0&=E+\Phi-h\nu\\R(E)&=\int_0^\infty\rho_u(u)\\&\quad\times G_\sigma(u-\varepsilon_0)\,du\\\mu(E)&=b\tau+\frac{I\tau}{e}\eta A_\gamma R(E)\end{aligned}

光子通带越宽,面积越大,收到的计数就越多。记录的扫描是被仪器展宽、加权后的空态谱,不是理想输入的反演重建。

常见难点

参考曲线不是数据

容易误解理想输入曲线就是从扫描推断出的结果。

正确理解金色曲线是已知输入,只用来独立检验;青色结果只用存储的计数算出。

曝光再长也消不掉所有误差

容易误解计数够多,答案就一定对。

正确理解计数多了,计数噪声会变小;但连续背景、能量标定、有限仪器宽度和设定损伤带来的误差都还在。

动手实验

  1. 01

    预测扫描的是哪个能量

    选一个存储的电子能量位置,把它的光子计数和能量核算卡对照。

    你会看到: 探测器数的光子能带始终不变,变的只是入射电子的能量。
  2. 02

    重新标定同一组计数

    把假定功函数从 3.5 改到 4.5 电子伏特。再改平滑,确认原始扫描完全没变。

    你会看到: 功函数设错时,两个推断峰平移同样的能量。
  3. 03

    计数与分辨率的取舍

    比较宽光子通带和宽入射电子能量分布,看计数率和合成半高宽。

    你会看到: 计数再多,也撤不掉卷积带来的展宽,更分不开靠得太近、本来就分辨不了的结构。
  4. 04

    找回两个峰

    把电子宽度和光子宽度都调窄,用标定好的功函数,停留时间给够。把质心能量和独立参考对照,再核对目标。

    你会看到: 目标检查信噪比、能量误差、仪器宽度和设定的损伤程度。
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