次级辐射不一定跟着光源变
Barkla 研究初级 X 射线照到材料后发出的次级辐射。其中一部分像入射辐射的散射，另一部分的穿透行为却随被照元素而定。更换辐射体并比较吸收，限制了“次级射线全是初级射线拐弯”的解释。
要把两部分分开，需要控制激发条件并比较衰减。探测器只显示变亮还不够：透射、散射及新发出的辐射都可能同时贡献信号。
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K 与 L 起初是实验分类
K、L 标签区分穿透能力和激发要求不同的特征辐射族。早期辨认这些族，并不需要一台能逐条分开波长的晶体谱仪；壳层解释是在实验分类之后发展起来的。
1917 年获奖贡献是元素特征辐射。Moseley 的原子序数研究、Manne Siegbahn 后来的精密谱学，分别回答测量链中的其他问题，不应统统写成同一次发现。
不画完整光谱，也能比较差异
对单一谱成分和均匀滤片，透射比的对数可估计衰减系数。滤片厚度必须已知，探测器响应也应固定。混合辐射则是多个指数项相加；用一个系数拟合整体，未必能代表其中任何一条谱线。
现代公式帮助解释滤片比较的逻辑，并未替 Barkla 的记录指派现代光子能量。讲稿中的辐射与原子术语，也要放回当时的实验背景理解。
来源：[1]
现代发射谱多保留了一条能量坐标
EDS 按光子在探测器中沉积的能量分选脉冲，WDS 则用色散晶体选波长。两者都能研究特征 X 射线，响应函数和重叠问题却不同于滤片比较。XPS 测的是逸出电子，还需要另外定义动能参考。
核对激发条件、重叠和背景后，谱线可支持元素判断；未经修正的峰面积不能直接当浓度，也不能唯一确定化学态。
读出哪次比较改变了解释
沿 Barkla 讲稿依次看辐射体、入射射线硬度和吸收体怎样改变，每次都问：哪项特征仍属于被照材料？接着读 Siegbahn：角度色散把线位变成了更严格的原子能量差检验。