Michelson：把条纹数变成长度

数出尺子分不开的变化

Michelson 在 1907 年讲稿中解释，改变光程会让条纹反复明暗交替。数这些周期，就能把机械位移与光波长比较。镜子往返光路的光程变化是镜子位移的两倍；把两者混用，长度就会错一倍。

测量连起了光源、光路和实物标准。只有交代波长与传播介质后，一条条纹才能对应确定的长度。

\Delta x=\frac{N\lambda_0}{2n}\quad\text{(fixed refractive index)}

来源：[1]

讲稿记下了对多种气体与金属蒸气辐射的筛选。谱线若太宽，或本来就是多线，光程差加大后条纹便不再清楚。红色镉谱线较适合拿来与米尺比较。

精密移动台因此还不够。光源谱形变化会抹淡或调制正在计数的条纹；可见度既限制量长，也能反过来揭示光谱结构。

来源：[1]

理想双束实验把最亮与最暗强度的差，除以两者之和，定义为可见度。即使光源相干，两束功率不等、偏振不合或背景过亮，也会降低这个数。可见度低，不能唯一归因于谱线宽。

光源稳定时，可见度随光学延迟的变化能约束一阶相干。要把完整干涉图变成光谱，还需已知的延迟坐标、有限窗口处理和响应修正。一条条纹消失，提供的信息少得多。

\mathcal V=\frac{I_{\max}-I_{\min}}{I_{\max}+I_{\min}}

来源：[1]

Michelson 比较了不同观察者在不同时间完成的测定，相符支持可复现性；折射率、热膨胀、对准和参考尺本身，仍决定准确度。那个历史结果也没有定义今天的国际单位制米。

1907 年奖表彰光学精密仪器及借此完成的研究。若只剩下以太漂移的零结果，讲稿实际展开的谱学与计量便被遮住了。

来源：[1][2]

把讲稿中的长度标准比对与可见度讨论对照着读。进入干涉仪后，先固定光源只改位移，再固定几何只改相干性。条纹挪动与条纹消失，回答的是两种问题。

来源：[1]