狭缝在每个像素上积分能谱
程序先加上已说明的空间模糊和帧位移,再按这个积分生成计数。实时狭缝预览和三图元素图方案是两次不同的曝光。
E35 · 能量过滤成像
能量过滤像的亮像素,就代表更多碳吗? 不一定。碳电离边之后拍的那张图里也有背景。三窗口法用边前的两张图逐像素估出背景,再从边后的图里减掉。即使这样,结果还要看噪声大小、窗口放在哪里、三张图对得准不准,以及样品厚度和背景模型。
在透射电子能谱上移动能量狭缝。在碳边之前拍两张像、之后拍一张,逐像素拟合幂律背景,再把带符号的净元素图和跃迁比图、单独采集的相对厚度图对比。校正漂移时,真实的采集噪声和缺失覆盖都保留下来。
物理教程
背景能量过滤器只放过能量损失落在某个范围内的透射电子,成像中继则保留每个电子来自样品的哪个位置。碳边之后拍的像里,既有核心信号,也有背景。
为什么值得理解就算元素没有变多,样品变厚或图像漂移也会造出亮区。想得到站得住的元素图,必须采集背景窗口,并且处理得当。
先抓重点
程序先加上已说明的空间模糊和帧位移,再按这个积分生成计数。实时狭缝预览和三图元素图方案是两次不同的曝光。
每个像素用实际的边前计数求出指数和幅度。指数超出假设的零到八范围,拟合就标为无效。电离边信号一旦漏进边前窗口,背景假设就不成立了。
净信号和跃迁比含义不同,单凭哪一个都得不到原子浓度:截面、厚度和多重非弹性散射都有影响。负残差保留下来,不靠截断把图弄得更干净。
这里假设零损失计数和全部损失计数的收集效率相同。有空间模糊和计数噪声,逐像素结果不可能完全准确。相对厚度像和碳元素图是分开的。
容易误解跃迁比图上越亮的像素,原子比例一定越高。
正确理解分母里也有背景和厚度的贡献。用截面标定的定量分析不在这个模型范围内。
比较接近零、16 eV 和 300 eV 的损失,看哪些代表路径能穿过狭缝,探测器上的图怎样变化。
你会看到: 探测器始终显示你选的能量窗口;三窗口元素图方案用的是它自己固定的边后窗口。选择“边前窗口污染”,再恢复安全的第二窗口。增大狭缝宽度并检查两侧边界。
你会看到: 诊断会拒绝重叠或包含碳边的窗口;图像看起来合理还不够。选择“未校正漂移”,再启用已知帧平移校正。比较原始帧、净剖面、相关与覆盖。
你会看到: 原始图像不变。处理程序重采样这些图,遮住不再重叠的边缘;计数噪声依旧存在。尝试跃迁比与相对厚度预设,再获得窗口有效、相关至少 0.95、覆盖至少 75% 的带符号净图。
你会看到: 曝光加长,计数精度更高,方案剂量也更大。厚度图和跃迁比图都代替不了元素的背景扣除。