局部场沿深度累积成投影
局部场沿所选厚度均匀。关闭晶体耦合时,厚度加倍,期望冲量也加倍;这还不能确定未知的深度分布。
E38 · 电子成像
衍射盘的偏移,什么时候能用来测样品里的场? 要同时满足三条:零点用真空参考标定过,探测器收全了相关角度,盘内强度也没被样品里的散射打乱。即便如此,偏移也只反映电子束穿过样品时累计受到的横向推力。电场和磁场都能造成同样的推力,一次扫描分不出是哪一种。
让会聚电子探针穿过一个平滑的结区,把它的衍射盘和单独记录的真空盘对照。从测得的质心偏移算出电场等效投影,和四分区差分的结果比较,再看裁切、计数噪声和晶体散射怎样冒充一个场。
物理教程
背景电子穿过一个横向受力平滑变化的区域,会获得横向动量,衍射盘随之平移。只要盘整体平移、形状不变,像素探测器就能从记录强度的质心测出这个平移。
为什么值得理解表观场还取决于探测器零点在哪里、探测器漏掉了哪些角度、计数噪声有多大,以及晶体把多少强度散射到了别处。
先抓重点
局部场沿所选厚度均匀。关闭晶体耦合时,厚度加倍,期望冲量也加倍;这还不能确定未知的深度分布。
耦合强度和激发误差决定可逆的弹性强度交换。即使没有电磁场,圆盘质心也可能偏移。
电子沿样品深度的正方向入射。沿 x 的正投影电场让电子偏向 x 负方向;沿 y 的负投影磁感应造成同样的偏移。束能固定为 200 kV。
单独的真空帧用同一个角掩膜。所有扫描点共用这一个参考,它的计数误差会出现在每个点上。裁切对样品盘和真空盘质心的影响可能不一样。
它的单位是伏特,因为它是沿深度积分过的场,不是以每米伏特计的局部场。磁场预设里电场为零,却给出完全相同的计数。
这个斜率只适用于完整、均匀、偏移很小的圆盘。偏移一大,关系就变成非线性;环形掩膜或圆盘缺掉一块,也会改变标定。
每次扫描曝光 24 行 24 列,间隔 2 nm。单独的真空曝光多花时间、多出数据,但不算样品剂量。已知模型误差以探针展宽后的投影场为参考。
容易误解场图给出了每个原子唯一的电场。
正确理解这张图是电场等效量沿深度的积分,又经过探针平均。磁力和散射都可能贡献信号,本实验也没有做原子尺度的多层切片计算。
容易误解探测器掩膜是对称的,质心就不会有偏差。
正确理解样品盘和真空盘如果被截掉的部分不同,掩膜再对称也补不回缺失的强度。
先关闭晶体耦合,拖动样品把厚度从 100 改到 50 纳米,比较恢复投影。再选“无场 · 晶格冲量”,改变厚度和偏离布拉格条件的倾角。
你会看到: 场的贡献随路程增加;弹性双束交换却可能随厚度起伏,即使真实场为零,也会造成表观场。比较未校正状态与“已标定质心”。
你会看到: 扣掉测得的真空计数,探测器的零点偏移就去掉了,但参考本身的噪声还在。缩小掩膜外半径,或者挡掉中心区域。
你会看到: 圆盘被裁掉一块,它的质心就不再代表整束电子的平均动量;缺失计数还可能让两种估计都失效。比较分区和散射伪影预设,再比较磁场预设。
你会看到: 分区结果偏离小偏移标定,弹性动力学衍射造出假的场衬度。电场和磁场来源可以给出一模一样的偏移数据。打开真空校正,满足给定的接收、计数、均方根误差和剂量要求,然后核对。
你会看到: 曝光更多,计数噪声更小,但裁切和散射造成的系统偏差还在。