相对两个真空能级的动能
假定样品接地并与分析器电接触,样品不带电,也没有外加偏压。
E50 · 电子成像 / 电子谱学
能分开光电子谱里两个靠得很近的峰,又留住足够计数吗? 可以,分辨率够用就停,别多要。降低通能(电子穿过分析器时的能量)、收窄狭缝,能量分辨会更高,但透过的电子也更少。把参数调到刚好分开两个峰,缺的计数靠延长曝光补回来。
用带保护电极的径向收集器,在几种光子频率和强度下记录反向电压电流曲线。只用保存下来的开快门、关快门计数推断每条曲线的端点,检验标定的局限,再切换到半球能量分析器。
先预测,再记录一次电流扫描
小球形发射极和同心的反向电压栅极按总动能筛选电子,带屏蔽的球冠收集器接收落在其角孔径内的径向轨迹。这套装置与半球能量分析器是分开的。每条射线都从有限大小的球面发射极出发,沿共同球心的径向准直,角动量为零。规定的扇形权重近似余弦律,但不是一般表面的 Lambert 发射。完整的球形保护场是理想化的,尺寸也经过放大;能量分布和角分布都是为教学预设的。
先预测强度翻倍的作用,再记录一次扫描。
焦点在实验区时,按空格开始或停止采集,按 R 重置;滑块仍可用方向键调节。隐藏页面或离开实验区会暂停采集,已有观测全部保留。
尚未保存会话。
开快门与闭快门计数
青色:开快门时的观测电流;灰色:闭快门背景;琥珀色:只用观测数据拟合的响应。三频率采集会在每个频率重复完整的开、闭快门扫描;没有扫完的扫描按缺测处理,不参加斜率拟合。
中心端点与标定过的有限源响应
记录拟合的中心端点
诊断剖面半区间
最近开闭快门电流差
记录拟合的电压 / 频率斜率
截距:功函数与接触势之和
给定接触参考下的功函数
拟合出的中心端点已计入均匀分布的光子能带和能量损失带;支持集最外端的截止电压等于中心端点加光子半宽。评分加四的剖面区间只用于诊断,没有经过标定的置信覆盖率,也不包括响应的系统误差。源太宽、信号太弱、端点没被扫描范围括住、碰到逸出边界或拟合太差的扫描,都不参加斜率拟合。保守的逸出检查使用另行给定的接触势工作范围:负 0.4 到正 0.8 伏。
所有扫描共有的未知接触势垒会平移截距;电流扫描只能确定功函数与接触势合在一起的偏移,要解读功函数,必须有独立的接触参考。如果频率标尺整体有误,即使每条曲线都拟合得很好,斜率也会偏。图中显示的参考值没有输入回归。
| 扫描 / 组 | 报告频率 | 行数 / 状态 | 查看 |
|---|
| 电压 / V | 曝光 / s | 开快门计数 | 闭快门计数 |
|---|
模型假定:等效电子计数相互独立,服从 Poisson 分布;背景恒定,由闭快门测得;没有空间电荷、二次发射、收集器光电发射和斑块场;径向场有保护电极。端点拟合检验不了这些假定。半球模式沿用原来的能量分析模型和设置。
半球分析器的数据,单独列出
半球模式的能量分析诊断。这些计算响应和合成探测图像属于半球模式,与反向电流的观测记录分开。
物理教程
背景本实验有两种不同的装置。半球分析器照常按能量筛选电子;另一种用带保护电极的径向收集器,记录电流随反向电压的变化。端点只根据记录下来的开、闭快门计数推断,再比较多个频率和强度。
为什么值得理解先弄清仪器设置怎样影响测量结果,再去解读样品。
先抓重点
假定样品接地并与分析器电接触,样品不带电,也没有外加偏压。
两条等宽狭缝上的位置和色散面内的入口角,都假定为相互独立的均匀分布。角半宽以弧度计;入口角带来的平均能量偏移已经校准扣除。这个高斯只是方差与响应相同,不是分析器的精确线形,也不是全底宽公式。
计数率为经验教学规律,不是商业仪器规格。
发射极半径两毫米,栅极半径二十毫米。沿径向发射的电子角动量为零。同心电极之间电势单调变化,电子的初始动能必须大于正势垒,才能到达栅极。等电势的收集球冠位于二十二毫米处。这是理想的受保护场,不是平板收集器,也不是一般的球形阴极发射模型。
光子能量偏移在标定半宽内均匀分布;能量损失独立地在零到标定宽度之间均匀分布。电子从各发射点沿径向出发,发射点按规定的余弦加权扇束方向分布。收集球冠的角孔径改变接受的通量。真空侧动能不为正的电子逃不出来,模拟器在产生任何探测计数之前就执行这条边界。
只有在独立限定的接触电势范围内、整条源能带都保证能逃逸时,才用第二行做推断;否则平台被逃逸边界截断,这次扫描被拒绝。开、闭快门的 Poisson 计数给出背景、振幅和剖面拟合的中心端点。最外端的截止值等于中心端点加上光子半宽除以电子电荷。分数增加四给出的剖面区间只是诊断量,置信覆盖率没有标定。
同一个制备组里至少要有三个不同的报告频率。回归不输入 Planck 常数,也不输入源功函数或接触值。另外提供的接触参考可以用来解释截距,但结论取决于这个参考是否正确。频率标尺若有未知的共同误差,斜率会偏,电流曲线却照样拟合得很好。
容易误解正确接地和标定的分析器中,样品功函数会移动全部结合能谱峰。
正确理解接触电势差会改变局部真空能级。费米能级对齐后,结合能用分析器的功函数标定。电子能不能逸出,仍由样品决定:相对样品真空能级的动能为正,电子才能逸出;相对分析器真空能级的动能也为正,它才能到达分析器。
容易误解一条电压—频率直线,能分别测出发射极功函数和接触电势。
正确理解只要源电子全都能逃逸,把功函数加上某个偏移,同时把接触电压减去等效的量,每一个电流读数都不变。只有独立参考才能把两者分开。接近阈值时,逸出边界确实带来额外信息,但这个受限的端点估计器有意不用这段范围,也不声称能把两者分别求出来。
预测采集最快的场景能不能分开双峰,再对照固定的本征谱线参考,比较快速扫描与分开双峰两个场景。
你会看到: 降低通带能量、收窄狭缝,测到的谱峰会变窄,但通过的电子变少。样品和分析器的功函数不同时,电子刚离开样品时的动能,和分析器测到的动能并不相同。分开相距 0.25 eV 的双峰:等效高斯半高全宽要小于 0.10 eV,预期积分计数至少 500。所选能态的电子还必须能够逸出。
你会看到: 先看数值是否达标,再把仪器视图和数据图对照着看。只改变样品功函数,比较样品表面处的动能和分析器测到的动能,再降低光子能量,直到不再有电子发射。
你会看到: 分析器按理想中心场色散,响应用方差匹配的高斯描述。完整的谱要扫描能量才能得到,一次探测只覆盖一小段能区。分析器功函数固定为 4.5 eV,样品与分析器电接触后费米能级对齐。高斯谱线响应和经验通量都是教学假设,不含材料专属截面和空间电荷,也不精细求解透镜。用“反向电压收集器”采集三个频率,再只把光子通量加倍,多采集一次。查看原始的开、闭快门计数和拟合端点。中途停下再继续,随机序列保持不变。
你会看到: 通量改变电流大小,频率移动端点。曝光时间有限,拟合值会有起伏。之前的原始扫描仍保留在表格和 CSV 里。试试“弱信号”“没有发射”“宽源谱”和“逸出边界”,再试两个标定反例“频率标尺错误”和“错误接触参考”。比较两种装置之前,先“保存精确会话”,再“恢复保存会话”。
你会看到: 只有暗电流的扫描,不能证明一个电子都没有。源谱太宽、没有把端点括在里面、被逸出边界截断或前后不一致的曲线,都不能作为斜率上的点。接触参考错了,推出的功函数就错了,斜率却不变。